LW400JT


芯片檢查顯微鏡

分享

儀器用途:

LW400JT適用於矽、砷化镓、磷化銦等基片6″8″盤的生產工藝檢查;也可以適用其它需較大麵積標本的工藝檢查。

性能特點

1、 配置大視野目鏡和長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)。

2、配置移動載物台

3、粗微動同軸調焦機構,粗動鬆緊可調,帶鎖緊和限位裝置,微動格值:2μm。

4、6V 20W鹵素燈,亮度可調。

5、三目鏡筒,可切換正常觀察與偏光觀察,可進行100%透光攝影。


上一個: LWM300LMDT
下一個: LWD200-4XC