LW400LJT


芯片檢查顯微鏡

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儀器用途:

LW400LJT適用於對不透明物體的顯微觀察。采用無限遠光學係統,實現偏光觀察、暗場觀察等功能。適用於金相組織及表麵形態的顯微觀察.

性能特點:

1、配置大視野目鏡和長距平場消色差物鏡(無蓋玻片),

2、配置大移動範圍的載物台,移動範圍:8"×8"(204mm×204mm)

3、粗微動同軸調焦機構,粗動鬆緊可調,帶限位鎖緊裝置,微動格值:0.8μm

4、6V 30W鹵素燈,亮度可調

5、三目鏡筒,可切換正常觀察/偏光觀察,

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